областях БТ забезпечуються потрібні концентрації основних і неосновних носіїв. З підвищенням температури навколишнього середовища або при нагріванні транзистора струмами зростає число генерованих пар електрон-дірка. Внаслідок зростання концентрації носіїв електропровідність областей приладу збільшується, і його нормальна робота порушується. Практика доводить, що максимальна робоча температура германієвих БТ лежить у межах від +70 до
+100 С. У кремнієвих транзисторів унаслідок більшої ширини ЗЗ енергія, необхідна для іонізації атомів основної речовини, виявляється більшою, ніж у германієвих, і тому максимальна робоча температура кремнієвих приладів може
становити від +125 до +200 С.
Мінімальна робоча температура БТ визначається енергією іонізації домішкових атомів та їх концентрацією. Як правило, ця енергія невелика (0,05 - 0,1 еВ), і з цієї точки зору БТ може працювати при мінімальній температурі -
200 С. Але фактична нижня границя температури обмежується термостійкістю корпуса і допустимими змінами параметрів, тому її величина становить, як правило,
від -60 до -70 С.
Пробої транзистора
1 Тепловий пробій. При порушенні теплового балансу, коли внаслідок недостатнього тепловідведення приріст потужності, що підводиться до КП, не компенсується відповідним приростом потужності, яка відводиться, в БТ відбувається тепловий пробій. Він супроводжується необмеженим зростанням температури переходу, збільшенням колекторного струму і потужності, що підводиться, і, як наслідок, перегрівом приладу і його псуванням.
Величину напруги, яка не приводить до теплового пробою БТ, визначають за формулою:
109
UÊÁ |
|
Tmax T0 |
, |
(3.44) |
|
||||
Ò |
RT IÊÁ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
0 |
|
|
де Òmax - максимально допустима температура КП; T0 - температура навколишнього середовища;
RT - тепловий опір тепловідведення (корпусу, радіатора тощо).
Таким чином, допустима напруга UÊÁÒ тим менша, чим більші струм IÊÁ0 , тепловий опір і температура навко-
лишнього середовища. При незадовільному тепловідведенні і високій температурі середовища напруга теплового пробою може стати меншою за робочу напругу транзистора. Особливо небезпечним є тепловий пробій для потужних БТ, які мають значний зворотний струм колектора IÊÁ0 .
2 Електричний пробій. Оскільки переходи БТ взаємодіють між собою, то величина пробивної напруги залежить від схеми ввімкнення приладу та від режиму його використання. Зупинимося на прикладі схеми зі спільним емітером.
|
|
|
IK |
||
- |
- |
IБ |
|
- |
|
- |
|
UКE |
|||
UКE |
UКE |
|
+ |
||
+ |
+ |
RБ |
|||
IБ |
|||||
|
|
+ |
|
||
а) |
б) |
|
|
в) |
|
Рисунок 3.32 – До пояснення впливу режиму роботи БТ на |
|||||
величину пробивної напруги: а) |
IE 0 ; б) |
IÁ 0; в) U ÁE IÁ RÁ |
|||
Нехай маємо БТ у ССЕ з розімкненим емітерним колом
( IE 0 ) (рис. 3.32 а).
110
Зауважимо, що цей приклад цілком аналогічний до
схеми зі спільною базою при |
IE 0 . Коефіцієнт множення |
|||||||
колекторного струму у БТ при IE 0 |
|
|
|
|
||||
M |
|
|
1 |
|
|
|
, |
(3.45) |
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
n |
||||
|
U ÊÁ |
|
|
|
||||
1 |
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|||
|
U |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ÊÁ0ï ðî á |
|
|
|
|||
де n (2 – 6) залежно від матеріалу виготовлення БТ та виду p - n переходу.
Лавинний пробій КП відбувається при наближенні напруги U KÁ до значення UKÁ0ï ðî á . При цьому різко зрос-
тають коефіцієнт передачі струму емітера ( Ì h21Á ) і
колекторний струм, як |
показано на |
рисунку 3.33 (крива |
||||||
IE 0 ). |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Вторинний пробій |
||||
IК |
IЕ |
0 |
|
RБ |
|
UБЕ 0 |
IЕ 0 |
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
UКЕ |
0 U КБ |
0 |
U КЕ U |
КЕК |
U КБ |
0 |
|
2 |
|
Рисунок 3.33 – Залежність пробивної напруги від режиму роботи БТ
Якщо тепер розірвати лише базове коло (рис. 3.32 б), тобто IÁ 0 , то колекторний струм дорівнюватиме
IK (1 h21E )IÊÁ0 h21E IÊÁ0 . (3.46)
111
У випадку лавинного пробою формула (3.46) набирає вигляду
|
IK |
Mh21Á |
IÊÁ . |
|
(3.47) |
|
1 Mh21Á |
|
|||
|
|
0 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
При цьому |
знаменник правої частини |
1 Ì |
h21Á 0 , |
||
струм колектора |
IK (крива |
IÁ 0 на рисунку 3.33). |
|||
Враховуючи цю умову і вираз (3.45), можна одержати формулу для визначення пробивної напруги колектор – емітер при IÁ 0 :
UKE0ï ðî á UÊÁ0ï ðî á |
1 h21Á . |
(3.48) |
Отже, UKE0ï ðî á UÊÁ0ï ðî á . Пробивна напруга в ССЕ при IÁ 0 в 2 - 3 рази менша, ніж пробивна напруга в ССБ при
IE 0 .
3 Вплив опору у колі бази. Пробивна напруга БТ залежить від величини опору RÁ , увімкненого в базове
коло. Цей опір (рис. 3.32 б) зумовлює позитивний зворотний зв’язок між виходом і входом транзистора: зростання колекторного струму в граничному режимі (при UKE UÊÁï ðî á ) приводить до збільшення прямої напруги на
ЕП, що, у свою чергу, приводить до подальшого зростання I Ê , нового збільшення I Á і т.д. Внаслідок цього транзистор
втрачає стійкість і пробивається (крива RÁ на рисунку 3.33). Чим більший RÁ , тим сильніший позитивний зворотний зв’язок. Найгіршим є випадок розриву кола бази ( IÁ 0 ),
коли пробивна напруга стає мінімальною (рис. 3.33). Саме з цієї причини звичайно забороняється застосовувати транзистори у режимі розімкненого базового кола.
112
Особливо недопустимим є такий режим для потужних БТ, які в цьому випадку пробиваються при малих U KE .
Найбільш стійким є режим при RÁ 0 . Однак через
вплив розподіленого опору бази |
|
навіть при RÁ |
пробивна |
rÁ |
напруга залишається меншою, ніж при вимкненому емітері (крива UEÁ 0 на рисунку 3.33).
Слід зауважити, що вмикання опору до емітерного кола сприяє збільшенню пробивної напруги, бо таке ввімкнення забезпечує появу негативного зворотного зв’язку, який певною мірою компенсує дію опору RÁ .
4 Вторинний пробій. При значному колекторному струмі, особливо в імпульсному режимі, в БТ може виникнути вторинний пробій, який супроводжується різким зменшенням напруги колектора при одночасному збільшенні колекторного струму, і на вихідній характеристиці з’являється ділянка з негативним диференціальним опором (пунктирна крива на рисунку 3.33). Колекторний струм, при якому виникає вторинний пробій, зменшується зі збільшенням зворотної напруги U KE . Можливість виник-
нення вторинного пробою залежить від опору навантаження БТ, а також від напруги живлення EK .
Розвиток вторинного пробою суттєво визначається локальними неоднорідностями транзисторної структури, які зумовлюють нерівномірний розподіл густини струму, місцевий нагрів, а потім і перегрів структури, що супроводжується проплавлянням бази.
5 Пробій змикання – це пробій, зумовлений змиканням ЕП та КП. Розширення КП у бік бази внаслідок того, що концентрація домішок у базі нижча, ніж у колекторі, може привести до того, що при певній напрузі змикання КП заповнить собою всю базову область і з’єднається з ЕП. Транзистор при цьому втрачає свої підсилювальні
113