Материал: Сканирующая зондовая микроскопия

коэффициент усиления в цепи обратной связи Feed Back Loop Gain установлен на значении 3,

Нажал кнопку Set Interaction и убедился, что параметр Amplitude Suppression в окне Set Interaction (Рис. 50) имеет величину около 0.3.

Рис. 50. Окно установки величины взаимодействия зонда и образца

. Нажал на кнопку RUN.

Индикатор Steps начинает отсчитывать пройденные шаги. После захвата взаимодействия появляется сообщение Landingdone.

Для вывода зонда из обратной связи и увеличения расстояния между зондом и образцом используется режим отвода зонда (Probe Moving: Rising). Для выполнения операции отвода выбрал направление движения Probe Moving: Rising и нажал кнопку RUN.

Сканирование

После выполнения процедуры подвода (Landing) и захвата взаимодействия становится доступным сканирование (кнопка  в окне панели управления прибором).

Нажав эту кнопку (вид окна сканирования представлен на Рис. 51), приступил непосредственно к проведению измерений и получению результатов измерений.

В режиме сканирования установил параметры сканирования. Эти параметры сгруппированы в правой части верхней панели окна Scanning.

В первый раз после запуска программы они устанавливаются по умолчанию:

Площадь сканирования        Scan Area (Xnm*Ynm): 5000*5000 нм;

Количество точек

измерений по осям                X, Y: NX=100, NY=100;

Скорость сканирования        Velocity= 1000 nm/s;

Путь сканирования      Path определяет направление сканирования. Программа позволяет выбирать направление оси быстрогос канирования(Х или Y). При запуске программы устанавливается Path=X+.

После задания параметров сканирования нажал кнопку Apply для подтверждения ввода параметров и кнопку RUN для начала сканирования.

Рис. 51. Окно управления процессом и отображения результатов сканирования ССМ

Для сохранения результатов измерения нажал кнопку Save Experiment в окне сканирования и в появившемся окне диалога выбрал каталог и указал имя файла.

Список используемых источников

1.      Булыгина Е.В, Макарчук В.В, Панфилов Ю.В., Оя Д.Р., Шахнов В.А. «Нанорзмерные структуры: классификация, формирование и исследование»: Учебное пособие для Вузов. М.: 2006 г

.        В.Л. Миронов. Основы сканирующей зондовой микроскопии. Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений. ИФМ РАН- г. Н. Новгород, 2004 г.

.        Дедков Е.Г., Чуприк А.А., Бобринецкий И.И., Неволин В.К., «Приборы и методы зондовой микроскопии» МФТИ Учебное пособие М., 2011 г.

.        Тихомиров А.А. Основы сканирующей зондовой микроскопии и методы ее применения в современных научных исследованиях». Приложение к журналу «Вестник РГТУ» №4 Рязань 2009 г.

.        Сусло А.А., Чижик С.А., «Методы испытаний и оборудование». Журнал материал, технологии, инструмент №3 1997 г.

.        Дубровин Е.В., Мешков Г.Б, Яминский И.В. « Сканирующая зондовая микроскопия: получение трехмерных изображений». Лабораторная работа

.        Руководство пользователя прибора NanoEducator модель СЗМУ-Л5