Материал: Физические основы количественного рентгеноструктурного анализа металлов. Дифрактометрический анализ дефектов кристаллического строения по эффекту уширения линий

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

Неоднородно уширены линии примесных ионов в неоднородных кристаллах и аморфных твёрдых телах. Значительное однородное уширение  испытывают молекулярные линии в жидкостях и растворах. Вследствие перекрытия колебательно-вращательных полос в большинстве случаев вместо отд. спектральных линий в спектрах поглощения и люминесценции наблюдаются широкие полосы. Во мн. экспериментах лазерной спектроскопии и радиоспектроскопии (особенно в пучковых) время взаимодействия атомов или молекул с полем излучения мало по сравнению с временем жизни возбуждённого уровня. В результате наблюдаемый контур линии поглощения (или вынужденного испускания) испытывает т. н. время-пролётное (или просто пролётное) уширение. При этом ширина контура (d- размер области взаимодействия). Форма контура зависит от распределения поля в области взаимодействия.

Резонансное взаимодействие атомов с полем интенсивной эл.-магн. волны приводит к полевому У. с. л. вследствие нелинейных эффектов, напр. вследствие насыщения поглощения.

Структура электронных спектров кристаллов при обычных условиях сильно размыта под действием тепловых колебаний атомов кристаллической структуры, и в большинстве случаев наблюдаются широкие размытые спектральные полосы. При гелиевой темп-ре можно наблюдать дискретные спектральные линии, которые возникают при прямых переходах между экситонными зонами, при переходах между дискретными уровнями электронов и дырок, локализованных на дефектах решётки, либо на акцепторных или донорных примесях в гомеополярных полупроводниках (см. Спектроскопия кристаллов). Помимо колебаний атомов на форму и ширину экситонных линий влияют тип связи в кристалле, его зонная структура и микроструктура экситонного возбуждения. В сильнолегированных полупроводниках ширина линии может зависеть от степени легирования. Дискретные линии наблюдаются и при комнатной темп-ре в поглощении и люминесценции кристаллов, содержащих ионы переходных металлов (хром, железо, палладий, платина и др.), лантанидов и трансурановых элементов, имеющих незаполненные d- и f -оболочки. В кристаллах высокого качества линии таких примесных ионов, напр. линия иона Сr3+ в рубине и линия Nd3+ в иттрий-алюминиевом гранате, испытывают однородное уширение, обусловленное гл. обр. колебаниями атомов кристаллической структуры.

Весьма многообразны причины уширения радиочастотных линий электронного парамагнитного резонанса (ЭПР), ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и ядерного квад-рупольного резонанса (ЯКР). Наиб. значит. влияние на их форму и ширину оказывают спин-решёточное взаимодействие, спин-спиновое взаимодействие, неоднородность магн. поля и исследуемого объекта. К уширению наблюдаемых линий ЭПР часто приводит неразрешённая сверхтонкая структура. Ширина линий циклотронного (диамагнитного) резонанса, соответствующая переходам между уровнями Ландау, определяется частотой электрон-электронных соударений.

Использованная литература

1.   Белов Н. В., Структурная кристаллография, М., 1951;

2.      Б о к и й Г. Б., Порай-Кошиц М. А., Рентгеноструктурный анализ, 2 изд., т. 1, М., 1964;

.        Липсон Г., Кокрен В., Определение структуры кристаллов, пер. с англ., М., 1956;

.        Бюргер М., Структура кристаллов и векторное пространство, пер. с англ., М., 1961;

.        Г и н ь е А., Рентгенография кристаллов. Теория и практика, пер. с франц., М., 1961;

6.      Stout G, Н., J е n s е n L. Н., X-ray structure determination, N. Y.- L., 1968;

7.      X е и к е р Д. М., Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов, Л., 1973;

.        Бландел Т., Джонсон Л., Кристаллография белка, пер. с англ., М., 1979;

.        Вайнштейн Б. К., Симметрия кристаллов. Методы структурной кристаллографии, М., 1979;

10.    Electron and magnetization densities in molecules and crystals, ed. by P. Becker, N. Y.- L., 1980;

11.    Кристаллография и кристаллохимия, М., 1986;

12.    Structure and physical properties of crystals, Barselona, 1991. В. И. Симонов.

.        Грим Г., Уширение спектральных линий в плазме, пер. с англ., М., 1978;

.        Вайнштейн Л. А., Собель-ман И. И., Юков Е. А., Возбуждение атомов и уширение спектральных линий, М., 1979;