температуры может быть очень большим, а измерительная аппаратура, контролирующая эти изменения, фиксирует их в ограниченном диапазоне, поэтому датчики на основе термисторов работают обычно в узком температурном интервале (50…100 оС).
Существует еще один класс терморезисторов, изготавливаемых по аналогичной технологии, но с очень высоким положительным ТКС. К ним относятся различные оксиды с полупроводниковыми и сегнетоэлектрическими свойствами. Например у легированной керамики на основе оксидов TiO2, изменение сопротивления в температурном диапазоне 100…150 оС составляет 2-3 порядка. В принципе, такими свойствами обладают все материалы с фазовыми переходами I или II рода: сегнетоэлектрики (BaxSr1–xTiO3), сверхпроводники (J1–xBax)2CuO7. Устройства на их основе широко используются в системах охранной, пожарной и аварийной сигнализаций.
Кремниевые датчики температуры, создаваемые с помощью диффузии, интересны в случае массового применения, так как они достаточно дешевые, изготавливаются методом групповой технологии, имеют большой температурный коэффициент, хорошую воспроизводимость параметров (отклонение номинала резисторов составляет не более 1 %), взаимозаменяемость. Технология их достаточно проста – это обычный диффузионный резистор (ДР). Маршрут изготовления состоит из окисления пластины – фотолитографии (ФЛГ) под диффузию – снятии стекла – окислении – ФЛГ под контактные окна – металлизации – ФЛГ по металлизации – травлении металлизации.
Для кремниевого датчика существует две области температур с различным характером ее изменения. При повышении температуры (до ~120 оС) сопротивление ДР возрастает из-за снижения подвижности носителей заряда, концентрация которых остается постоянной. При дальнейшем росте температуры сопротивление падает из-за термоактивированного процесса рождения электронно-дырочных пар. Характер поведения сопротивления в диапазоне температур сильно зависит от концентрации носителей заряда в ДР (рис.12).
Обычно работают на восходящем участке R(t) с положительным ТКС, равным ~0,7 % оС при температуре 25 оС. Малый диапазон измеряемых температур (~200 оС) и высокая нелинейность являются основными недостатками ДР.
16
R
|
|
N0 = 1013 см–3 |
1015 |
|
|
||
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
Al |
SiO2 |
|
|
|
|
|
1017 |
|
|
|
|
|
|
|
1019 |
|
|
|
|
|
|
|
1021 |
|
|
|
|
|
|
|
|
p± Область |
n-Si |
|
0 |
100 |
200 |
300 |
400 |
t, °C |
||
|
|||||||
|
|
||||||
Рис. 12. Диффузионный резистор: а – зависимость сопротивления от концен-
трации легирующей примеси в диапазоне температур; б – структура ДР
На рис. 13 показана типичная характеристика диффузионного резистора R = R(t), которая требует линеаризации. Зависимость сопротивления ДР от
температуры близка к квадратичной:
R = R (1 +α∆t + β∆t2 ), |
|
|
t |
0 |
|
где ∆t = t −t0 , β =1,84 10−5 |
oC−2 , |
|
α =0,78∙10−2 оС−1. |
|
|
Линеаризацию проводят |
под- |
|
ключением параллельного (I = const) или последовательного (U = const) дополнительного сопротивления R1
(рис.14). Для I = const
R, Ом
2500
2000
1500
1000
500
Um = IR1Rt |
(R1 + R0 )= IR0mt , |
|
‒40 |
0 40 80 120 160 t, °C |
|
где m – коэффициент линеаризации. |
|
Рис. 13. Преобразовательная характе- |
|||
Для U = const |
(R1 + R0 )=Umt. |
|
|
|
ристика ДР |
Um =URt |
|
|
|
|
|
|
|
d 2 R |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Из условия линеаризации |
t |
|
= 0 получим выражение для лине- |
||
dt2 |
|
||||
|
|
|
t =tcp |
|
|
|
|
|
|
|
|
аризующего |
сопротивления: |
R1 = R25[(α2 β−1)+3∆tcp (α +βtcp )], где |
|||
∆tcp =tcp −t0 , t0 = 25 oC .
17
Rt
R1 |
|
Rt Um |
|
|
|
Rt =R0∙(1+α∆t+β∆t2)
a
|
|
|
R1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Rt |
Um |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
Tmin |
Tср |
Tmax |
t |
|
|
|
|
||||
|
|
б |
|||||
|
|
|
в |
|
|
||
Рис. 14. Линеаризация ДР: а – параллельное подключение дополнительно-
го резистора; б – последовательное подключение дополнительного резистора; в – линеаризованная характеристика
Значение R1 зависит от выбираемого диапазона температур (tcp ) и не зависит от способа подключения. Например, необходимо линеаризовать ДР с R25 =1 кОм для средней температуры 100 оС. Тогда tср =(100–25) = 75 оС;
|
|
(0,78 10−2 )2 |
|
−2 |
|
−5 |
|
|
|
|
R1 =1 |
|
|
−5 |
−1 + 3 75 (0,78 10 |
|
+1,84 10 |
|
|
=4,466 |
кОм. |
|
|
|
|
100) |
||||||
|
|
1,84 10 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
На рис. 15 представлены линеаризованные характеристики ДР в диапа-
зоне (–25…+100) оС.
Обычно чувствительность датчиков на основе ДР ~5 мВ/оС и 50 мВ/оС
– с усилением.
Контроль температуры с помощью диодов или транзисторов осуществляется измерением напряжения на выходе при включении последних в прямом направлении (транзистор, в режиме диода Us = Eg + Kt
[e ln(Is
tn )], где n – коэффициент диффузии носителей (~3); Eg – ширина запрещенной зоны.
18
Отклонение от
нелинейности, %
0,4
2,6 кОм
0,2
−0,2
−50 −25 0 25 50 75 100 t, °C
2,5 кОм
−0,4
Рис. 15. Линеаризованная характеристика ДР
Ток через диод определяется выражением Is = I0 (exp(eUs )
Kt −1), где
I0 =Ctn exp(− eEg
Kt).
При включении в прямом направлении диода, когда Is >> I0 ,
Is = I0 exp(eUs
Kt)= cmn exp[e(Us Eg )
Kt].
Тогда |
ln Is = lnC + nlnt + e(Us − Eg ) Kt ; |
Us =(Kt e)ln Is −(Kt e)lnC −(Ktn e)lnt + Eg . |
|
При I = const |
и температуре t1 Us1 =(Kt e)ln Is −(Kt1 e)lnt1 + Eg , ис- |
ключаются C, I . Тогда Us =Us1(t
t1 )+ Eg (1 −t
t1 )+ n(Kt
e)lgt
t1 – данная зависимость существенно нелинейна.
Чувствительность S = dUs
dt = (Us1 − Eg ) 1
t1 + nK
e(1 + lgt
t1 ).
Для транзисторов серии МТС dU
dt = −2,25 + 0,0033(U −600) мВ/оС ~ ~2,5 мВ/оС.
Чувствительность таких датчиков зависит от температуры и значения обратного тока. Для устранения влияния последнего (так же, как и разброса I0 в различных чипах) обычно используют спаренные транзисторы с закоро-
ченной базой и коллектором (рис. 16). В этом случае S = d(U1 −U2 ), где U1 dt
и U2 – напряжения на клеммах «база-эмиттер» транзистора 1, 2, питаемых токами I1 и I2 (рис. 16). Для этой схемы: U1 = (Kt
e)lg(I1
I0 );
U2 = (Kt
e)lg(I2
I0 ); U3 =U1 −U2 = (Kt
e)lg(I1
I2 ).
19
γ, %
|
|
|
|
|
U2 |
2 |
|
U1 |
|
|
|
|
|||
|
|
|
1 |
|
|||
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Uвых |
–1 |
0 20 40 60 80 100 120 t, °C |
|
|
|
|
|
|||
|
|
Iвых |
|
||||
|
|
|
|
||||
|
|
|
–2 |
|
|||
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
I1 |
|
|
I2 |
|
|
|
Рис. 16. Линеаризация преобразовательной характеристики: а – схема линеари- |
|||||||
|
|
|
зации датчика; б – результат линеаризации |
||||
Чувствительность такой схемы линеаризации с числовыми коэффици- |
|||||||
ентами определяется как S =86,56lg(I1 |
I2 ) мкВ/К. Это больше, чем S термо- |
||||||
пар, но меньше, чем ТСП с одним диодом или транзистором и существенно линейнее. Рабочий диапазон измеряемых температур охватывает температуры от –50 до 150 оС, где их работа чрезвычайно стабильна. На рис. 16 показаны схема линеаризации и ее результат.
ДАТЧИКИ ДАВЛЕНИЯ
Давление – переменная физическая величина, характеризующая поведение жидкостей и газов, является предметом изучения различных научных дисциплин, связанных с человеческой деятельностью: термо- и аэродинамики, гео- и биофизики, акустики, гидродинамики и механики. Датчики давления (ДД) востребованы в самых широких областях науки и техники – в промышленности и медицине, робототехники и индустрии развлечений. Номенклатура их использования столь широка и неожиданна, что ее вряд ли можно осмыслить. В настоящее время проблемами разработки и изготовления датчиков давления занимаются более 1000 различных фирм – от гигантов типа «Texas Instruments», «Siemens» до малоизвестных кремниевых мастерских. Мировой объем их выпуска в различных вариантах, включая нанотехнологии, более 500 млн в год. Это более 30 % от всей номенклатуры различных датчиков.
Появление датчиков давления относят к началу 60-х гг., а их промы ш- ленное освоение – к началу 70-х гг. В настоящее время доля полупроводниковых датчиков давления в общем объеме их производства составляет более
20