преобразует контролируемую физическую величину в другой вид энергии, либо меняет свои параметры под ее воздействием. Блок-схема любого коммерческого датчика представлена на рис. 3.
Вторичный преобразова- тель сигнала Регистрирующее устройство
(средство индикации)
|
|
|
|
II |
|
|
|
|
|
|
I |
|
|
III |
|
IV |
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Контролируемая |
|
|
|
|
|
|
Блок формирования |
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
первичного сигнала |
||
величина |
Приемник (первичный |
|
||||||
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|||||
|
преобразователь, чув- |
|
|
|
||||
|
ствительный элемент– |
|
|
|
||||
Рис. 3. Блок-схема коммерческого датчика
В дальнейшем будут рассматриваться только физические принципы работы и технологии изготовления блока I и блока II.
ОПТИЧЕСКИЕ ДАТЧИКИ
Видимая область оптического излучения занимает довольно узкий диапазон электромагнитных колебаний и имеет различное распределение по спектральным составляющим. Исходя из этого разрабатываются различные приемники оптического (видимого) излучения.
К оптическим датчикам относятся устройства, изменяющие параметры излучения под воздействием контролируемой физической величины: различного типа фотоприемники, фоторезисторы, фотодиоды (внутренний фотоэффект) и фотоэмиттеры (внешний фотоэффект). Устройства на основе таких активных элементов характеризуют (контролируют, измеряют) излучение оптического диапазона, включая ИК и УФ.
Фоторезистор является одним из самых простых и чувствительных датчиков оптического излучения. Основной принцип его работы заключается в изменений сопротивления чувствительного слоя под воздействием оптического излучения. В зависимости от интенсивности светового потока сопротивление может меняться в широких пределах (рис. 4).
Спектральная чувствительность определяется материалом резистора. Так, CdS обладает максимальной чувствительностью в зеленой области спектра (500 нм); CdSe – в красной (720 нм); а PbS/PbSe – в ИКобласти.
6
R, Ом
109
106
|
103 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1000 E, лк |
|||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||
|
0,01 |
0,1 |
1 |
|
10 |
|
100 |
||||||||||||||||||
|
|
Рис. 4. Изменение сопротивления фоторезистивного датчика |
|
|
|
|
|
||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
в зависимости от освещенности (при t = 25 °С) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
Параметры |
фоторезистора |
определяются |
его эквивалентной |
схемой |
||||||||||||||||||||
(рис. 5). |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
Сопротивление |
фоторезистора |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
Rср |
зависит |
от |
падающего потока |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Нагрузка |
||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
R |
= αΦ−γ , |
где |
α – определяется |
|
|
|
|
Rс0 |
|
|
|
|
|
Rср |
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||
ср |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
материалом; |
γ= 0.5–1; Φ – поток из- |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||
лучения; Rc0 – темновое сопротивле- |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||
ние (10…109 Ом). |
|
|
|
|
Рис. 5. Эквивалентная схема |
||||||||||||||||||||
|
Эквивалентное |
сопротивление |
|
фоторезистора |
|
|
|
|
|
||||||||||||||||
определяется по формуле R = |
|
Rc0Rср |
, |
где |
R ~ αΦ−γ |
при |
R |
>> R . |
|||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
c |
Rc0 + Rср |
|
с |
|
|
|
|
|
с0 |
|
|
|
ср |
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
Общий ток в цепи определяется как I = I0 + Ip ~ Ip = (U α)Φγ |
при условии |
||||||||||||||||||||||||
поддержки I0 (темнового тока) постоянным и I0 << Ip , а чувствительность –
выражением S = ∆I
∆Φ = γ(U
α)Φγ−1 , где U – напряжение питания. Статический коэффициент преобразования потока излучения известного
спектрального состава определяется выражением I
Φ = (U
Ф).
7
Статическая чувствительность датчика рассчитывается по формуле
S = Ip
Φ.
Из приведенных выражений следует:
1.Фоторезистор является нелинейным датчиком, и его чувствительность уменьшается с ростом потока излучения, кроме частного случая γ 1.
2.Чувствительность пропорциональна приложенному напряжению (при очень хорошем теплоотводе I0 << Ip или малых напряжения, когда само-
разогрев несущественен).
Достоинство фоторезистивных датчиков – высокие значения статического коэффициента преобразования и чувствительности, что позволяет использовать простые схемы.
Недостатки фоторезистивных датчиков – нелинейность, ограниченная полоса пропускания, старение и сильная температурная зависимость. Применяются такие датчики в областях, не требующих высокой прецизионности
(свет – темнота, наличие или отсутствие света и т. д.).
На рис. 6, а показан датчик оптического излучения в корпусе, а на рис. 6, б кристалл фоторезистора.
Поле зрения |
|
2,0 |
5,0 |
0,8 |
|
6-7 |
|
|
Электроды |
а |
б |
Рис. 6. Датчик и кристалл фоторезистора |
|
При управлении реле (рис. 7, а) фоторезистор либо открывает, либо закрывает диод. В схеме с мостом Уинстона управление происходит за счет разбаланса схемы при облучении фоторезистора световым потоком.
Схемы включения датчика показаны на рис. 7.
8
Работа фотодиода основана на внутреннем фотоэффекте. Как известно,
фотодиод – это обычная полупровод- |
|
|
|
|
|
|
Eп |
|||||
никовая структура с р–n-переходом, |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
||||||||||||
смещенным в обратном направлении |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
(запертый диод). При воздействии на |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
него фотонами с энергией больше ши- |
|
|
|
|
|
|
|
|
Us |
|
Us |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
рины запрещенной зоны в обедненной |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
области (область объемного |
заряда) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
E |
|
||||||
рождаются носители, которые под |
|
а |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
б |
|
|||||||||
действием поля будут вынесены, соот- |
Рис. 7. Схема включения фоторези- |
|
|||||||||||||||
ветственно, в |
n- и p-области. |
Задача |
стора: а – управляющее реле; б – в |
|
|||||||||||||
конструкторов |
состоит в том, |
чтобы |
|
|
составе моста Уинстона |
|
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
переход располагался как можно ближе к поверхности (уменьшение поглощения света), облучаемая поверхность была бы как можно больше, и концентрация неосновных носителей была бы невелика, т. е. необходимо использовать высокоомные материалы типа p–i–n-структур (ρ ~ 20кОм см). В качестве материалов для фотодиода используются Si и Ge для видимой и ближней ИК-областей, GaAs и тройные соединения – для ИК-области. Возможны два варианта работы (использования) фотодиода – в диодном и в гальваническом режимах. В диодном режиме измеряется фототок, а в фотогальваническом – напряжение холостого хода (высота барьера ~ 0,1…0,6 В, которую измеряют на выходах фотодиода). Ток короткого замыкания на малой нагрузке (R << Rd ) пропорционален потоку (n 10мкА).
Во всех случаях для получения линейной зависимости и высокой чувствительности темновой ток должен быть пренебрежимо мал. Обычно I0 ~ nА, но этот ток быстро возрастает при росте температуры. Чувствительность определяется так же, как и для фоторезисторов, выражением ∆I
∆Φ. При λ = const линейность охватывает 5-6 порядков величин по све-
товому потоку.
Принципиальной особенностью для фотодиодов на основе различных полупроводниковых соединений является то, что они способны реагировать на свет с длиной волны, лежащей только в определенном диапазоне. Этим определяется их селективность.
9
Быстродействие датчика |
в |
фотодиодном режиме 10−12...10−9 с |
и |
||
3 10−7 с – в фотогальваническом. |
|
|
|
||
Типичная структура фотодиода представлена на рис. 8. |
|
||||
1 |
2 |
3 |
Типичный маршрут изго- |
||
товления фотодиода: оксидиро- |
|||||
|
|
|
|||
p |
|
|
вание и фотолитография (ФЛГ), |
||
n |
|
|
подлегирование (создание p–n- |
||
|
|
|
перехода), далее металлизация |
||
а |
|
б |
с последующей защитой окси- |
||
Рис. 8. Фотодиод: а – структура; б – пла- |
дом и вскрытие областей над |
||||
нарная сторона. 1 – металлизация; 2 – за- |
контактными площадками. |
|
|||
щита; 3 – облучаемое окно |
|
Эквивалентная схема фо- |
|||
|
|
|
|||
торезистора при включении в режиме измерения фототока представлена на |
|||||
рис. 9. В схеме с источником питания фототок определяется выражениями |
|||||
Ip = qnn(1− R)λ Φ0 exp(−αx) и Us = RmIp . hc
В фотогальваническом режиме (рис. 9, б) без источника питания (темновой ток отсутствует) при Rm << Rd (КЗ)Ip ~ Φexp(−αx) – зависимость вы-
ходного сигнала либо логарифмическая, либо линейная.
На внутреннем фотоэффекте работают также фоторезисторы (освещается база либо подзатворная область у полевых транзисторов) и лавинные фо-
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Rm |
|
|
|
|
|
тодиоды |
(Us −Uпроб), |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
которые |
используются |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Us |
для управления, огра- |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
Rm |
|
|
|
|
Us |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ничения, |
коммутации, |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Rm = R |
измерения |
освещенно- |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
а |
|
|
|
|
|
|
б |
сти. |
|
|||||||||||
Рис. 9. Включение фотодиода: а – в режиме измерения |
Устройства с ис- |
|||||||||||||||||||||||
|
|
фототока; б – в фотогальваническом режиме |
пользованием фотодио- |
|||||||||||||||||||||
дов обладают высоким быстродействием. Это связано с тем, что напряженности поля на обратно смещенном p–n-переходе очень велики
(~ 104...105 В
см). В таких полях дрейфовая скорость электронов vдр не зави-
сит от их значения и составляет ~ 107 см
с.
10