Материал: zPUs6LtHHJ

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

преобразует контролируемую физическую величину в другой вид энергии, либо меняет свои параметры под ее воздействием. Блок-схема любого коммерческого датчика представлена на рис. 3.

Вторичный преобразова- тель сигнала Регистрирующее устройство

(средство индикации)

 

 

 

 

II

 

 

 

 

 

 

I

 

 

III

 

IV

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Контролируемая

 

 

 

 

 

 

Блок формирования

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

первичного сигнала

величина

Приемник (первичный

 

 

 

 

 

 

 

 

 

преобразователь, чув-

 

 

 

 

ствительный элемент–

 

 

 

Рис. 3. Блок-схема коммерческого датчика

В дальнейшем будут рассматриваться только физические принципы работы и технологии изготовления блока I и блока II.

ОПТИЧЕСКИЕ ДАТЧИКИ

Видимая область оптического излучения занимает довольно узкий диапазон электромагнитных колебаний и имеет различное распределение по спектральным составляющим. Исходя из этого разрабатываются различные приемники оптического (видимого) излучения.

К оптическим датчикам относятся устройства, изменяющие параметры излучения под воздействием контролируемой физической величины: различного типа фотоприемники, фоторезисторы, фотодиоды (внутренний фотоэффект) и фотоэмиттеры (внешний фотоэффект). Устройства на основе таких активных элементов характеризуют (контролируют, измеряют) излучение оптического диапазона, включая ИК и УФ.

Фоторезистор является одним из самых простых и чувствительных датчиков оптического излучения. Основной принцип его работы заключается в изменений сопротивления чувствительного слоя под воздействием оптического излучения. В зависимости от интенсивности светового потока сопротивление может меняться в широких пределах (рис. 4).

Спектральная чувствительность определяется материалом резистора. Так, CdS обладает максимальной чувствительностью в зеленой области спектра (500 нм); CdSe – в красной (720 нм); а PbS/PbSe – в ИКобласти.

6

R, Ом

109

106

 

103

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1000 E, лк

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0,01

0,1

1

 

10

 

100

 

 

Рис. 4. Изменение сопротивления фоторезистивного датчика

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в зависимости от освещенности (при t = 25 °С)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Параметры

фоторезистора

определяются

его эквивалентной

схемой

(рис. 5).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Сопротивление

фоторезистора

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Rср

зависит

от

падающего потока

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Нагрузка

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

R

= αΦγ ,

где

α – определяется

 

 

 

 

Rс0

 

 

 

 

 

Rср

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ср

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

материалом;

γ= 0.5–1; Φ – поток из-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

лучения; Rc0 – темновое сопротивле-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ние (10…109 Ом).

 

 

 

 

Рис. 5. Эквивалентная схема

 

Эквивалентное

сопротивление

 

фоторезистора

 

 

 

 

 

определяется по формуле R =

 

Rc0Rср

,

где

R ~ αΦγ

при

R

>> R .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

c

Rc0 + Rср

 

с

 

 

 

 

 

с0

 

 

 

ср

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Общий ток в цепи определяется как I = I0 + Ip ~ Ip = (U α)Φγ

при условии

поддержки I0 (темнового тока) постоянным и I0 << Ip , а чувствительность –

выражением S = ∆I∆Φ = γ(Uα)Φγ−1 , где U – напряжение питания. Статический коэффициент преобразования потока излучения известного

спектрального состава определяется выражением IΦ = (UФ).

7

Статическая чувствительность датчика рассчитывается по формуле

S = Ip Φ.

Из приведенных выражений следует:

1.Фоторезистор является нелинейным датчиком, и его чувствительность уменьшается с ростом потока излучения, кроме частного случая γ 1.

2.Чувствительность пропорциональна приложенному напряжению (при очень хорошем теплоотводе I0 << Ip или малых напряжения, когда само-

разогрев несущественен).

Достоинство фоторезистивных датчиков – высокие значения статического коэффициента преобразования и чувствительности, что позволяет использовать простые схемы.

Недостатки фоторезистивных датчиков – нелинейность, ограниченная полоса пропускания, старение и сильная температурная зависимость. Применяются такие датчики в областях, не требующих высокой прецизионности

(свет – темнота, наличие или отсутствие света и т. д.).

На рис. 6, а показан датчик оптического излучения в корпусе, а на рис. 6, б кристалл фоторезистора.

Поле зрения

 

2,0

5,0

0,8

 

6-7

 

 

Электроды

а

б

Рис. 6. Датчик и кристалл фоторезистора

При управлении реле (рис. 7, а) фоторезистор либо открывает, либо закрывает диод. В схеме с мостом Уинстона управление происходит за счет разбаланса схемы при облучении фоторезистора световым потоком.

Схемы включения датчика показаны на рис. 7.

8

Работа фотодиода основана на внутреннем фотоэффекте. Как известно,

фотодиод – это обычная полупровод-

 

 

 

 

 

 

Eп

никовая структура с р–n-переходом,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

смещенным в обратном направлении

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(запертый диод). При воздействии на

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

него фотонами с энергией больше ши-

 

 

 

 

 

 

 

 

Us

 

Us

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

рины запрещенной зоны в обедненной

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

области (область объемного

заряда)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

E

 

рождаются носители, которые под

 

а

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

б

 

действием поля будут вынесены, соот-

Рис. 7. Схема включения фоторези-

 

ветственно, в

n- и p-области.

Задача

стора: а – управляющее реле; б – в

 

конструкторов

состоит в том,

чтобы

 

 

составе моста Уинстона

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

переход располагался как можно ближе к поверхности (уменьшение поглощения света), облучаемая поверхность была бы как можно больше, и концентрация неосновных носителей была бы невелика, т. е. необходимо использовать высокоомные материалы типа p–i–n-структур (ρ ~ 20кОм см). В качестве материалов для фотодиода используются Si и Ge для видимой и ближней ИК-областей, GaAs и тройные соединения – для ИК-области. Возможны два варианта работы (использования) фотодиода – в диодном и в гальваническом режимах. В диодном режиме измеряется фототок, а в фотогальваническом – напряжение холостого хода (высота барьера ~ 0,1…0,6 В, которую измеряют на выходах фотодиода). Ток короткого замыкания на малой нагрузке (R << Rd ) пропорционален потоку (n 10мкА).

Во всех случаях для получения линейной зависимости и высокой чувствительности темновой ток должен быть пренебрежимо мал. Обычно I0 ~ nА, но этот ток быстро возрастает при росте температуры. Чувствительность определяется так же, как и для фоторезисторов, выражением I∆Φ. При λ = const линейность охватывает 5-6 порядков величин по све-

товому потоку.

Принципиальной особенностью для фотодиодов на основе различных полупроводниковых соединений является то, что они способны реагировать на свет с длиной волны, лежащей только в определенном диапазоне. Этим определяется их селективность.

9

Быстродействие датчика

в

фотодиодном режиме 1012...109 с

и

3 107 с – в фотогальваническом.

 

 

 

Типичная структура фотодиода представлена на рис. 8.

 

1

2

3

Типичный маршрут изго-

товления фотодиода: оксидиро-

 

 

 

p

 

 

вание и фотолитография (ФЛГ),

n

 

 

подлегирование (создание p–n-

 

 

 

перехода), далее металлизация

а

 

б

с последующей защитой окси-

Рис. 8. Фотодиод: а – структура; б – пла-

дом и вскрытие областей над

нарная сторона. 1 – металлизация; 2 – за-

контактными площадками.

 

щита; 3 – облучаемое окно

 

Эквивалентная схема фо-

 

 

 

торезистора при включении в режиме измерения фототока представлена на

рис. 9. В схеме с источником питания фототок определяется выражениями

Ip = qnn(1R)λ Φ0 exp(−αx) и Us = RmIp . hc

В фотогальваническом режиме (рис. 9, б) без источника питания (темновой ток отсутствует) при Rm << Rd (КЗ)Ip ~ Φexp(−αx) – зависимость вы-

ходного сигнала либо логарифмическая, либо линейная.

На внутреннем фотоэффекте работают также фоторезисторы (освещается база либо подзатворная область у полевых транзисторов) и лавинные фо-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Rm

 

 

 

 

 

тодиоды

(Us Uпроб),

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

которые

используются

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Us

для управления, огра-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Rm

 

 

 

 

Us

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ничения,

коммутации,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Rm = R

измерения

освещенно-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а

 

 

 

 

 

 

б

сти.

 

Рис. 9. Включение фотодиода: а – в режиме измерения

Устройства с ис-

 

 

фототока; б – в фотогальваническом режиме

пользованием фотодио-

дов обладают высоким быстродействием. Это связано с тем, что напряженности поля на обратно смещенном p–n-переходе очень велики

(~ 104...105 Всм). В таких полях дрейфовая скорость электронов vдр не зави-

сит от их значения и составляет ~ 107 смс.

10