Збільшення на затворі такого транзистора позитивної напруги (рис. 4.15 в) спричиняє надходження електронів з товщі напівпровідника до приповерхневого шару. Ширина каналу, його електропровідність, а також струм стоку зменшуються.
а) б) в)
Рисунок 4.15 – Будова МДН - транзистора з вбудованим каналом
При деякій позитивній напрузі на затворі (UÇÂâ³äñ )
відбувається інверсія типу провідності каналу, і області стоку й витоку розділяються областю n - типу. Струм стоку зменшується до значення зворотного струму p-n –
переходу.
Режим роботи транзистора, коли збільшення напруги U ÇÂ за модулем приводить до зменшення струму стоку,
називають режимом збіднення. Оскільки лише МДН – транзистори з вбудованим каналом, крім режиму збагачення, мають ще й режим збіднення, то вони називаються польовими транзисторами збідненого типу.
Статичні характеристики МДН – транзистора з вбудованим каналом p - типу наведені на рисунку 4.16.
Вигляд їх подібний до вигляду характеристик інших польових транзисторів. Однак ці характеристики, на відміну від попередніх, мають область позитивних затворних напруг
179
(область збіднення) і область негативних затворних напруг (область збагачення).
-15В |
|
Iс,mA |
|
|
|
|
|
IС,mA |
UЗВ=-1,5В |
|||
|
|
|
|
|
|
|||||||
|
10 |
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
10 |
|
|
|
-1,0 |
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
-0,5 |
|
||||
|
|
5 |
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
0 |
|
|||
|
|
|
|
5 |
|
|
|
|
||||
|
|
Iспоч |
|
|
|
0,5 |
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
1,0 |
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1,5 |
|
|
|
|
0 |
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
-2 -1 |
|
|
UЗВ,В |
0 |
|
|
|
|
|
|||
|
|
UЗВвідс |
-15 |
-30 UСВ,В |
||||||||
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|||||||
|
|
а) |
|
|
|
|
|
б) |
|
|
в) |
|
Рисунок 4.16 – Статичні характеристики МДН – транзисторів з вбудованим p - каналом:
а) стокозатворні; б) стокові; в) схемні позначення
Переваги польових транзисторів – високий вхідний опір і, як наслідок, дуже мале споживання енергії в керувальному колі, високий порівняно з БТ коефіцієнт підсилення потужності, ще більший, ніж ПТКП, властивий МДН – транзисторам. Та обставина, що металевий затвор у цих приладах ізольований від напівпровідникової підкладки тонким шаром діелектрика, зумовлює, що вхідний опір МДН – транзисторів у десятки – сотні разів вищий, ніж у ПТКП, і досягає десятків мегаомів, тобто затворний струм I Ç не перевищує одиниць наноамперів. До того ж, ця
властивість польових транзисторів з ізольованим затвором зумовлює збільшення завадостійкості і надійності роботи електронних схем, у яких вони використовуються. Але у таких приладів є суттєвий недолік. Відомо, що шар діелектрика завтовшки 1 мкм пробивається напругою 500 - 600 В. У МДН - транзисторах ізолювальна плівка має товщину 0,1 – 0,15 мкм, і тому її пробивна напруга не перевищує кількох десятків вольтів. Внаслідок цього МДН– транзистори є дуже чутливими до статичної електрики,
180
навіть до тієї, що накопичується на людському тілі. Тому в довідниках рекомендовано паяння і згинання виводів цих транзисторів здійснювати не ближче 3 мм від корпусу. Під час транспортування, зберігання і монтажу виводи приладів повинні закорочуватись, а руки оператора і паяльник потрібно заземляти.
Прикладами МДН – транзисторів з вбудованим каналом є малопотужні прилади: КП 305, КП 306, КП 313. Усі ці транзистори високочастотні і тому мають провідність каналу n - типу. До потужних МДН - транзисторів із вбудованим n - каналом належать транзистори КП 901.
4.3 Залежність характеристик і параметрів польових транзисторів від температури
У ПТКП зміна температури приводить до зміни контактної різниці потенціалів UÊ на p-n – переході,
зворотного струму через перехід, а також до зміни рухомості основних носіїв заряду.
Зміна |
UÊ супроводжується, згідно з |
формулою |
(4.2), |
||||
зміною глибини проникнення |
p-n – переходу до каналу, а |
||||||
це дещо змінює напругу відсічення UÇÂ |
. Наприклад, при |
||||||
|
|
|
|
|
â³äñ |
|
|
збільшенні температури на 1˚С UÊ |
зменшується на 2мВ, |
||||||
товщина |
p-n – переходу зменшується, а напруга відсічення |
||||||
зростає, |
причому |
UÇÂ |
= |
UÊ . |
Зменшення товщини |
||
|
|
â³äñ |
|
|
|
|
|
p-n – переходу спричиняє |
розширення |
каналу, |
тобто |
||||
збільшення струму Iñ .
Водночас залежність рухомості основних носіїв у каналі
від температури може бути виражена формулою |
|
||||||
|
|
= |
|
( |
T1 |
)n , |
(4.18) |
|
|
|
|||||
T |
T |
T |
|
||||
|
2 |
|
1 |
|
|||
|
|
|
|
2 |
|
|
|
181
де T1 , |
T 2 - рухомость носіїв при температурі T1 і T2 |
відповідно;
n 1 - коефіцієнт.
З формули (4.18) випливає, що при збільшенні температури рухомість основних носіїв зменшується, опір каналу внаслідок цього збільшується, струм стоку Iñ
зменшується.
Отже, зміна UÊ і рухомості основних носіїв у каналі при зміні температури протилежно впливають на опір каналу та струм стоку Iñ . За певних умов дія цих факторів взаємно компенсується, і при деякій напрузі на затворі струм стоку Iñ не залежатиме від температури (рис. 4.17).
А
UЗВ, В
Рисунок 4.17 – Температурний дрейф стокозатворних характеристик ПТКП
Точку А на стокозатворній характеристиці ПТКП КП 103М (рис. 4.17), в якій струм Iñ не залежить від температури, називають термостабільною точкою. Лівіше від цієї точки струм Iñ зі збільшенням температури зменшується,
правіше – збільшується. При цьому збільшення температури приводить до деякого збільшення напруги відсічення. Але на основній ділянці роботи ПТКП (лівіше т. А) струм стоку
182
і крутизна зменшуються при зростанні температури. Ця обставина зумовлює істотну перевагу ПТ перед БТ, у яких внаслідок явища самоперегріву зростання колекторного струму при нагріванні може призвести остаточно до теплового пробою.
Вплив температури на хід стокових характеристик ПТКП показаний на рисунку 4.18.
Рисунок 4.18 – Вплив температури на стокові характеристики ПТКП
Разом з тим збільшення температури приводить до
зростання зворотного |
(теплового) |
струму |
керувального |
p-n переходу, тобто |
вхідного |
струму |
ПТКП I ç |
(приблизно у 2 рази при збільшенні температури на 10˚С ). Тому при збільшенні температури вхідний опір ПТКП зменшується.
У МДН - транзисторах температурну залежність напруги відсічення (порогової напруги) визначають зміною рівня Фермі, зміною об’ємного заряду в збідненому шарі p-n
переходу між каналом та підкладкою, а також залежністю величини заряду в діелектрику від температури. Величина порогової напруги в МДН – транзисторах змінюється на 4- 10 мВ при зміні температури на 1 градус (залежно від типу приладу). Температурні зміни характеристик і параметрів МДН – транзисторів більші, ніж у ПТКП.
183