Особенности конструкции:
затвор выполнен в виде барьерного контакта типа Шоттки (позволяет исключить инжекцию дырок в канал и связанную с ней диффузионную емкость)
наличие полуизолирующей подложки, которая при высоком качестве исходного материала практически не влияет на величину порогового напряжения и вид ВАХ.
выводы делают в виде коротких полосок, удобных для сочленения с микрополосковыми линиями передачи
исток и сток имеют омические контакты, с точки зрения получения потока электронов они неразличимы, т.е. в такой конструкции, в отличие от триода, при изменении полярности приложенных напряжений на противоположную, прибор будет сохранять свои свойства;
на границе затвор-полупроводник образуется обедненный слой (ОС)
ВАХ:
Рисунок 3 – Форма ВАХ и обедненного слоя при насыщении тока в ПТШ (левый рисунок)
Зависимость
тока стока
от напряжения исток-затвор
при фиксированных напряжениях на стоке
,
т.е
называется входной характеристикой.
Зависимость тока стока
от напряжения сток-исток
при фиксированных напряжениях на затворе
,
т.е
называется выходной характеристикой
Динамические параметры:
входное сопротивление
внутреннее сопротивление транзистора
крутизна стокозатворной характеристики
напряжение отсечки
Эквивалентная схема:
Рисунок 4 – Эквивалентная схема ПТШ
Предельная частота, связь ее с физико-топологическими параметрами структуры:
Частотный диапазон работы прибора зависит от паразитных реактивных параметров (паразитное сопротивление и паразитная емкость). Увеличение этих параметров сужает диапазон.
Важно
отметить, что элементы схемы имеют
достаточно хорошую физическую
интерпретацию и могут быть рассчитаны,
исходя из физико-топологических
параметров прибора. Хорошая физическая
обусловленность элементов дает адекватное
отражение ВЧ свойств транзистора в
широком частотном диапазоне при
неизменных параметрах схемы. В случае
использования схемы в верхней части
рабочего диапазона частот обычно
проводят коррекцию числовых значений
элементов схемы методами параметрического
синтеза, используя измеренные параметры
рассеяния в качестве целевой функции
(см. ниже). Более того, подобные эквивалентные
схемы с успехом используются для
нелинейного анализа. Зависимость
параметров от приложенного напряжения
может быть выражена аналитически. Это
относится, прежде всего, к основным
параметрам:
.
Для общего случая эти величины могут
быть комплексными, ввиду задержки тока
на изменение приложенного напряжения
на электродах:
G – крутизна
Граничная частота
Универсальным
способом корректного описания линейного
режима транзистора, как элемента
микроволнового тракта, является
использование параметров рассеяния –
S-параметров. Этому способствует высокая
точность измерений этих параметров,
обеспечиваемая современными векторными
анализаторами цепей. Эти параметры
определяют связь нормированных падающих
и
отраженных
волн на входе и выходе транзистора
(странный вопрос, абзац, который начинается с важно отметить, стоит писать если хоть что то поняли, потому что я ничего не понял, но решил вставить, на всякий случай, вдруг это важно)
Параметры рассеяния:
Способы повышения предельной частоты и мощности транзистора.
Рисунок 1 – Структура полевого транзистора с барьером Шоттки
Рассмотрим малосигнальную эквивалентную схему ПТШ, учитывающую паразитные емкости:
Рисунок 2 – Эквивалентная схема ПТШ
- входная емкость,
- емкость обратной связи. Граничная
частота – частота, при которой комплексная
амплитуда входного тока равна комплексной
амплитуде выходного тока
,
или же:
(пусть обратная связь отсутствует,
значит
);
Отсюда видно, что граничная частота f обратно пропорциональна индуктивности и сопротивлению затвора, емкости затвор-канал, сопротивлению и индуктивности истока и прямо пропорциональна проводимости канала. Для улучшения частотных свойств имеет смысл уменьшать эти параметры, уменьшая размеры затвора и истока, а также увеличивать проводимость канала, увеличивая подвижность носителей заряда. Подвижность можно увеличить, уменьшив длину канала. Таким образом, будет происходить меньше актов столкновения носителей заряда с кристаллической решеткой полупроводника.
Сравнение материалов для изготовления транзисторов: кремний, арсенид галлия, карбид кремния, нитрид галлия, фосфид индия, алмаз.
Сравним характеристики материалов, из которых изготавливается ПТШ:
Таблица 1
Характеристика материала |
Si |
GaAs |
GaN |
6H-SiC |
4H-SiC |
C, (алмаз) |
1. Ширина запрещенной зоны, эВ |
1,12 |
1,42 |
3,4 |
3,03 |
3,26 |
545 |
2. Критическая напряженность поля, кВ/см |
300 |
400 |
3000 |
2500 |
2200 |
10000 |
3. Подвижность, см2/(В*cек) |
1300 |
8500 |
1500 |
260 |
500 |
2000 |
4. Дрейфовая скорость, 105 м/cек |
1,0 |
2,0 |
2,7 |
2,0 |
2,0 |
2,7 |
5.Теплопроводность, Вт/(m*K) |
1,5 |
0,5 |
1,5 |
4,9 |
4,9 |
22 |
6. Диэлектрическая проницаемость |
11,9 |
12,5 |
9,5 |
9,66 |
10,1 |
5,5 |
7.Максимальная температура, К |
300 |
300 |
700 |
600 |
600 |
|
Из таблицы видно, что при создании мощных приборов наиболее подходят карбид кремния и нитрид галлия. Эти материалы имеют достаточно высокую максимальную температуру работы, при этом большую по сравнению с другими материалами критическую напряженность поля. Карбид кремния имеет достаточно большую теплопроводность, использование этого материала может значительно упростить теплоотвод в мощных приборах.
Из домашнего задания №3. Вариант 1
Тенденция использования в современных транзисторах GaN, InP, SiC, алмаз С
Основной причиной поиска новых материалов для транзисторов стало необходимость повышения мощности, повышения рабочих температур и увеличения быстродействия. Разберем основные отличия новых материалов по сравнению с традиционными Si, Ge и GaAs.
Нитрид галлия GaN является прямозонным полупроводником типа А3В5. Его ширина запрещенной зоны при комнатной температуре составляет 3.4 эВ, что на 2 эВ больше, чем у GaAs. Благодаря этому повышается рабочая температура, на которой может работать транзистор. Чем больше рабочая температура, тем больший ток можно пустить через структуру и тем больше критическая напряженность поля, при которой происходит пробой. Таким образом увеличивается мощность и частота, что активно используется в СВЧ-технике.
Фосфид индия InP имеет небольшую ширину запрещенной зоны (1.27 эВ при комнатной температуре), поэтому работа с большими мощностями невозможна. Однако он обладает наибольшей скоростью насыщения и низким уровнем шумов, что позволяет использовать его в схемах, где необходимо быстродействие (например, НЕМТ-транзисторы).
Карбид кремния SiC является непрямозонным полупроводником типа А4В4. Его ширина запрещенной зоны составляет от 3.28 до 3.03 эВ в зависимости от политипа. Его высокие рабочие температуры, высокая механическая прочность и хорошая теплопроводность позволяет работать с большими мощностями, недостижимыми для других полупроводников.
Алмаз С обладает самой большой шириной запрещенной зоны (5.4 эВ), при которой материал все еще можно использовать в качестве полупроводника. Он обладает очень большим напряжением пробоя, хорошей теплопроводностью и высокой подвижностью носителей заряда. Благодаря этим качествам его можно использовать в очень мощной СВЧ-электронике.
Из домашнего задания №3. Вариант 2.
GaN, SiC, C
Эти материалы позволили создавать приборы, работающие в верхней части микроволнового диапазона 100...200 ГГц. Их применение и сокращение размеров активной области до размеров порядка 0,05...0,1 мкм привело к возможности получения вакуумного переноса носителей, подобного процессу переноса в вакуумных приборах. Также эти материалы относятся к широкозонным (GaN, SiC), за счет их использования на порядок повышается выходная мощность полупроводниковых усилителей и генераторов в микроволновом диапазоне. В настоящее время разработаны HEMT-транзисторы на основе GaN, способные отдавать мощность до 100 Вт в диапазоне частот до 6 ГГц. На этих транзисторах можно разрабатывать усилители с выходной мощностью до нескольких кВт.
InP
Этот материал характеризуется высокой низкополевой подвижностью, большей чем у GaAs скоростью насыщения. Применение InP в гетероструктурных биполярных транзисторах дает возможность получать большую разницу ∆Wn и ∆Wp. Таким образом удается поднять уровень легирования в базе, что позволяет не только уменьшить толщину базы, но и существенно снизить ее паразитное сопротивление. В целом это приводит к увеличению критической частоты.
В микроволновых устройствах детекторные диоды монтируют в так называемые детекторные головки, где встроены согласующие элементы и разъемы для включения в типовой микроволновый тракт: коаксиальный, микрополосковый, волноводный и т. п. В гибридных ИС диоды монтируются на печатную плату, на которой размещены также согласующие и соединительные элементы. На рисунке 1 а показана эквивалентная схема такой ИС и топология (рис. 1 б) устройства. Параметры схемы приведены для диода SMS7630. Схема обеспечивает коэффициент стоячей волны (КСВ) порядка 1,2 в диапазоне 1...18 ГГц. В данной схеме имеются дополнительные элементы, обеспечивающие развязку цепей подачи смещения, микроволновой части и выходной НЧ цепи. Для этого применяются фильтры, выполненные на распределенных и сосредоточенных элементах. Четвертьволновый шлейф на входе используется для трансформации короткого замыкания в холостой ход. Это обеспечивает беспрепятственное прохождение ВЧ сигнала на диод. Такой же шлейф, присоединенный к другому контакту диода, обеспечивает холостой ход на выходном контакте диода и отсутствие прохождения ВЧ сигнала в цепь подачи смещения.
В настоящее время область применения детекторных диодов расширяется за счет их использования в системах беспроводной передачи энергии. Они служат для приема микроволновой энергии и преобразования ее в энергию постоянного тока, аналогично работе солнечных элементов. Большое количество диодов образуют приемную антенну, называемую ректенной (от англ. rectifying antenna — выпрямляющая антенна). В таком применении требования малых шумов уходят на второй план, а КПД преобразования и устойчивость к повышенному уровню мощности на первый.
Рис. 1 а – эквивалентная схема; б – топология устройства
Схемотехнические особенности применения смесительного диода
Рис. 2 Простейшая схема смесителя микроволнового дипазона
На рисунке 2 изображена схема простейшего преобразователя частоты. В ней на смесительный диод СД подаются сигналы от антенны А и от гетеродина. На диод подается также постоянное смещение от источника U. Полосно-пропускающий фильтр ППФ (преселектор) позволяет настроиться на сигнал с нужной частотой. Сигнал гетеродина поступает на СД через направленный ответвитель НО. Смещение на диод подается через фильтр нижних частот, образованный компонентами Сф, Lф2. Сигнал промежуточной частоты поступает на усилитель промежуточной частоты (УПЧ) через индуктивность Lф1, препятствующую прохождению на вход усилителя высокочастотных составляющих спектра. Для согласования диода с микроволновым трактом используется плунжер Пл.
Рис. 3 Схема балансного смесителя
Для компенсации амплитудных шумов гетеродина используются различные балансные схемы. Широкое аспространение получила схема двухдиодного балансного смесителя (БС), в котором используется 3 дБ направленный ответвитель. Такие ответвители получили название мосты. На рисунке 3 показана упрощенная конструкция волноводного балансного смесителя. Она состоит из двух смесительных секций с диодами D1 и D2, к которым через волноводный щелевой мост (ВЩМ) подаются: сигнал на частоте ws с мощностью Ps и сигнал гетеродина на частоте wг с мощностью Pг.