Список использованных источников
1. Микроанализ и растровая электронная микроскопия. Пер. с франц. Под ред. Морис Ф., Мени Л., Тиксье Р. М.: Металлургия, 1985. 392 с.
2. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля. Брандон Д., Каплан У. Пер. с англ. Под ред. С. Л. Баженова. М.: Техносфера, 2004. 213 с.
3. Практические методы в электронной микроскопии. Пер. с англ. Под ред. Глоэр О. М. Л.: Машиностроение. Ленинградское отделение, 1980. 375 с.
4. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: в двух книгах. Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Ф. Пер. с англ. М.: Мир, 1984. 303 с.
5. Электронно-зондовые исследования полупроводниковых материалов и приборов. Конников С. Г., Сидоров А. Ф.-М.: Энергия, 1978. 149 с.