Материал: LS-Sb89582

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

5. Для нахождения длины волны λx неизвестной линии x выбирается ближайшая к ней стандартная линия с известной длиной волны λст. Такой эталонной линией в данном случае является линия CuKβ эталона с длиной волны λKβ. Тогда длина волны λx неизвестной линии может быть вычислена по формуле

lx = lст ± D × Lx ,

(3.2)

где D – обратная линейная дисперсия; Lx – расстояние между стандартной и неизвестной линиями спектра, мм.

Обратной линейной дисперсией D называется интервал длин волн, при-

ходящийся на 1 мм спектрограммы (масштаб спектрограммы). Эта величина определяется по стандартным линиям спектра CuKβ и CuKα. Если интервал длин волн между линиями CuKβ и CuKα составляет Δλ0, а расстояние по спектрограмме L0, то обратная дисперсия имеет вид

D =

 

 

Δλ0

 

 

.

(3.3)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

L0

 

При измерении расстояний L0 и Lx может быть допущена ошибка, кото-

рой соответствует ошибка в определении длины волны Δλx. Следовательно,

длина волны неизвестной линии должна находиться в пределах от значения

λx до λx ± Δλx.

6. Расшифровку спектрограммы следует проводить в следующей после-

довательности:

6.1.Определить положение спектральных линий (Kα и Kβ) стандартного вещества (меди).

6.2.Измерить расстояние между линиями Kα и Kβ стандартного веще-

ства и рассчитать Δλ0, пользуясь табл. 3.1 и формулой (3.3).

6.3. Измерить положение искомой линии (λx) относительно положения спектральных линий (λCuKα и λCuKβ) стандартного вещества. Следует учесть, что λKα > λKβ.

6.4. По формуле (3.2) вычислить λx линий неизвестных элементов.

21

6.5. Выписать из табл. 3.1 линии с длинами волн λтабл, ближайшие к экспериментально найденным значениям λx ср, и наименования линий

(например, λFeKα). Как показывает практика, расхождение между λтабл и

λx ср должно составлять не более 0.0009 нм.

7. Если расхождение превышает 0.0009 нм, следует проверить возмож-

ность присутствия на спектрограмме линий второго порядка отражения

K-серии (n = 2), а также линий L-серии (n = 1).

Таблица 3.1

Длины волн линий K-серии излучения некоторых химических элементов

 

Z

 

 

Элемент

 

 

Uвозб, кВ

 

 

λKα, нм

 

λKβ, нм

 

25

 

 

 

Mn

 

6.54

 

 

 

0.2104

 

0.1910

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

26

 

 

 

Fe

 

7.10

 

 

 

0.1937

 

0.1757

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

27

 

 

 

Co

 

7.71

 

 

 

0.1790

 

0.1621

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

28

 

 

 

Ni

 

8.29

 

 

 

0.1659

 

0.1500

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

29

 

 

 

Cu

 

8.86

 

 

 

0.1542

 

0.1392

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

30

 

 

 

Zn

 

9.65

 

 

 

0.1436

 

0.1295

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

31

 

 

 

Ga

 

10.4

 

 

 

0.1341

 

0.1208

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

32

 

 

 

Ge

 

11.1

 

 

 

0.1255

 

0.1129

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

33

 

 

 

As

 

11.9

 

 

 

0.1177

 

0.1057

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

34

 

 

 

Se

 

12.7

 

 

 

0.1106

 

0.0992

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

35

 

 

 

Br

 

13.5

 

 

 

0.1041

 

0.0933

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

36

 

 

 

Kr

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

37

 

 

 

Rb

 

15.2

 

 

 

0.0927

 

0.0828

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

38

 

 

 

Sr

 

16.1

 

 

 

0.0876

 

0.0784

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

39

 

 

 

Y

 

17.0

 

 

 

0.0830

 

0.0747

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

40

 

 

 

Zr

 

18.0

 

 

 

0.0787

 

0.0702

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

41

 

 

 

Nb

 

19.0

 

 

 

0.0748

 

0.0666

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

42

 

 

 

Mo

 

20.0

 

 

 

0.0711

 

0.0632

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

74

 

 

 

W

 

 

(L-серия)

 

 

(линия Lα1)

 

0.1476

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 3.2

 

 

 

 

 

 

 

Результаты анализа

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Номер

 

Lx, мм

 

D,

 

λx, нм

 

λx ср,

λтабл,

Наименование

λрасч,

 

Отсчет по

 

Отсчет по

 

линии

 

 

нм/мм

 

нм

нм

 

линии

нм

 

CuKα

CuKβ

 

CuKα

CuKβ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

22

8. Результаты расшифровки занести в табл. 3.2. Расшифровку можно

считать законченной только тогда, когда определены все линии спектро-

граммы.

3.4. Содержание отчета

1.Цель работы.

2.Основные теоретические положения, расчетные формулы и данные для расчета, схема установки (ход лучей в спектрометре).

3.Расшифровка спектрограммы (по форме табл. 3.2).

4.Результаты расчетов по закону Мозли для расшифрованных характе-

ристических линий.

5. Выводы, в которых должны быть описаны полученные результаты,

проведен сравнительный анализ полученных результатов с теоретическими положениями, сделаны выводы по составу образца.

Лабораторная работа № 4

КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ ФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗ

Цель работы – ознакомление с аппаратурой и методами проведения ко-

личественного рентгеноспектрального флуоресцентного анализа (КРСФА).

4.1. Общие положения

КРСФА основан на том, что интенсивность аналитической линии K- или

L-серии зависит от концентрации анализируемого элемента в исследуемом образце. На практике широко используются два метода: внешнего и внутрен-

него стандартов. В методе внутреннего стандарта интенсивность аналитиче-

ской линии сравнивается с интенсивностью какой-либо линии другого эле-

мента, который добавляется в исследуемый образец в известном количестве.

Недостатком этого способа является то, что анализируемый образец должен быть препарирован (т. е. должен быть добавлен элемент сравнения в извест-

ном количестве), что снижает экспрессность анализа. В методе внешнего стандарта интенсивность аналитической линии сравнивается с интенсивно-

стью той же линии от стандартного образца аналогичного состава с извест-

23

ной концентрацией анализируемого элемента. Таким образом, устанавлива-

ется зависимость интенсивности от весовой концентрации анализируемого элемента, которая является сложной функцией элементного состава образца.

Анализ с помощью системы уравнений связи. Если анализируемая проба состоит из m элементов и, соответственно, скорость счета квантов, ко-

торая характеризует интенсивность аналитической линии, для каждого эле-

мента равна N1, N2, …, Nm, то концентрацию любого из элементов Сi можно

определить из системы уравнений

α −

1

 

C + α

C + ... + α

C

 

= 0;

 

 

 

11

 

N1

1 12 2

 

 

1m m

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

α21C1

+ α22

 

C2 + ...

+ α2mCm

= 0;

 

 

 

 

 

 

N2

 

 

 

 

 

 

 

 

(4.1)

...................................................................

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

α

C + α

C + ... +

α

mm

 

1

 

C

= 0

 

 

 

 

m1 1

 

 

 

m2 2

 

 

 

 

Nm

 

 

m

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и дополнительного уравнения

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

C1 + C2 + ... + Cm = 1,

 

 

 

 

(4.2)

где αis – коэффициенты, показывающие, как влияет присутствие в пробе эле-

мента s на интенсивность флуоресценции элемента i: если s = i, то αii = 1/Ni

величина, обратная скорости счета от пробы, полностью состоящей из элемента i. Число неизвестных в системе уравнений (4.1) равно числу компонентов пробы m. Заменив в (4.1) одно из уравнений дополнительным уравнением (4.2), нужно решить полученную систему уравнений относительно концентраций элементов C1, C2, …, Cm.

Коэффициенты α в системе уравнений (4.1) определяются экспериментально. Для этой цели следует использовать бинары (смесь элементов i и s) с известными концентрациями Ci и Cs. Система уравнений решается в виде

 

α

 

1

C + α

 

C

 

= 0;

 

ii

 

 

is

s

 

 

Ni

 

i

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(4.3)

 

 

 

 

 

1

 

C

 

 

 

 

 

 

α

 

 

 

+ α

 

C = 0,

 

ss

 

 

s

si

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

i

 

 

 

 

 

Ns

 

 

 

 

 

 

 

 

24

где Ni и Ns – скорость счета квантов флуоресценции в бинаре для аналитиче-

ских линий элементов i и s. Так как число коэффициентов α в (4.1) равно т(т – 1), а при помощи бинара определяют два коэффициента αis и αsi, то число бинаров должно быть равно 1/2m(m – 1) . Этот метод позволяет проводить анализ для проб с сильным межэлементным влиянием.

Анализ с поправками на поглощение аналитической линии в пробе

ведется по аналитическому графику NA = N(CA), где NA – скорость счета квантов флуоресценции элемента А; CA – его концентрация. Аналитический график строится при помощи набора стандартов. Концентрацию определяют в предположении, что интенсивность аналитической линии, зарегистрированной от пробы, равна интенсивности той же линии от некоторого стандарта. Вследствие различия состава стандарта и пробы концентрация Cj, найденная по аналитическому графику, не будет равна истинному содержанию Сх эле-

мента в пробе. Истинную концентрацию с учетом поглощения аналитической линии в пробе следует определять как

 

 

= 0.75C

 

μx

 

C

 

 

m

,

x

j

 

 

 

 

μ j

 

 

 

 

 

m

 

где μmx , μmj – массовые коэффициенты поглощения аналитической линии в пробе и стандарте соответственно. Таким образом, для реализации этого метода необходимо определить массовые коэффициенты поглощения аналитической линии, которые для стандартов нужно рассчитать, а для пробы измерить экспериментально.

Анализ с введением арифметических поправок. Если при анализе элемента А в пробе присутствует мешающий элемент В (с атомным номером (ZB > Z A + 2), то соотношение (4.3) не выполняется. Интенсивность флуо-

ресценции элемента А в пробе возрастает за счет дополнительного возбуждения его атомов флуоресцентным излучением атомов элемента В. В этом слу-

чае следует использовать соотношение

CA = βN A (1 − γCB ),

где β – котангенс угла наклона аналитического графика NA = N(CA), полу-

ченного на наборе стандартов; γ – коэффициент, учитывающий дополнительное возбуждение атомов А, который не зависит от соотношения концентраций элементов А и В. Коэффициент γ может быть определен по специальному стандарту, содержащему элементы А к В в известном количестве. Этот метод

25